全新展望卡爾蔡司關(guān)聯(lián)顯微鏡顆粒度分析-華普通用

Axio Zoom.V16與關(guān)聯(lián)顯微鏡都能進行顆粒質(zhì)量檢測
德國斯圖加特，耶拿在今年德國斯圖加特舉辦的清潔貿(mào)易博覽會上，卡爾蔡司顯微鏡部帶來了兩個用于顆粒分析的新選擇。通過Axio Zoom.V16系統(tǒng)，用戶可以快速高效地檢測部件的清潔度，同時關(guān)聯(lián)顯微鏡還可對單個顆粒進行化學(xué)元素和成分分析。
對于汽車與電子行業(yè)和機械工程行業(yè)中質(zhì)量控制領(lǐng)域的用戶，都可以運用這兩個方法去檢查清潔度和確認在工藝過程中扮演重要角色的顆粒。該顆粒度分析支持ISO 16232和VDA 19 標(biāo)準(zhǔn)。
Axio Zoom.V16
Axio Zoom.V16是一款變倍比可達16、孔徑光闌交大的連續(xù)變倍體顯微鏡。它可以拍攝大視場范圍的圖像，并具有較高的分辨率。通過全新的電動控制器可以改變偏光襯度，顆粒就可以完全自動地分為反射型和非反射型。采用AxioVision的顆粒度分析軟件模塊可以獲得面積百分比，大小分布以及顆粒類型的信息。Axio Zoom.V16對5μm以上的顆粒測量有很好的表現(xiàn)并能快速地提供所需信息?！拔挥谒箞D加特主要應(yīng)用于制造工程及全自動IPA的Fraunhofer研究所的首批用戶都被分析區(qū)域之大及分析時間之短震撼了?！盝ati Kastanja卡爾蔡司顆粒分析產(chǎn)品經(jīng)理熱情的介紹到。
關(guān)聯(lián)顯微鏡顆粒分析
關(guān)聯(lián)顯微鏡是指可以將光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡相結(jié)合的一個工作體系。光學(xué)顯微鏡可以觀察得到面積百分比，大小分布和顆粒類型的結(jié)果。另外，X射線能譜分析法(EDS)可以確認化學(xué)組成元素，這就構(gòu)成了光鏡下所選顆粒的成分分類基礎(chǔ)。三種不同的用戶模式確保對未決定任務(wù)的調(diào)整，以及確認分析數(shù)據(jù)細節(jié)的等級.ZEISS電子顯微鏡EVO和SIGMA以及光學(xué)顯微鏡Axio Imager都支持關(guān)聯(lián)顯微鏡顆粒度分析。關(guān)聯(lián)顯微鏡的顆粒分析過程是全自動的，并且比單個顯微鏡的分析要快10倍多。測量結(jié)束，用戶還可以得到一份關(guān)于光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡分析結(jié)果的綜合報告。