德國蔡司ZEISS鎢燈絲掃描電鏡EVO10-華普通用

型號：EVO10

ZEISS商業(yè)化電鏡的歷史和經(jīng)驗已超過60年，其技術(shù)先進(jìn)、性能卓越，在失效分析以及各種分析研究中具有廣泛的應(yīng)用。 ZEISS不斷追求、推出新的技術(shù)和新的產(chǎn)品

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產(chǎn)品描述

德國蔡司ZEISS鎢燈絲掃描電子顯微鏡產(chǎn)品詳情

德國蔡司ZEISS鎢燈絲掃描電子顯微鏡

型號：EVO 10
EVO系列電鏡是高性能、功能強大的高分辨應(yīng)用型掃描電子顯微鏡。該系列電鏡采用多接口的大樣品室和藝術(shù)級的物鏡設(shè)計，提供高低真空成像功能，可對各種材料表面作分析，并且具有業(yè)界領(lǐng)先的X射線分析技術(shù)。革命性的Beamsleeve的設(shè)計，確保在低電壓條件下提供高分辨率的銳利圖像，同時還可以進(jìn)行準(zhǔn)確的能譜分析。樣品臺為五軸全自動控制。標(biāo)準(zhǔn)的高效率無油渦輪分子泵能夠滿足快速的樣品更換和無污染(免維護)成像分析。
掃描電鏡(SEM)廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實時微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。
鎢燈絲掃描電子顯微鏡EV0 10技術(shù)參數(shù)

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